佐治亚技术机构研究人员宣布他们开发出 RFID testbed，与目前的标签设计过程的对比，这台设备可以更经济、有效地测试新标签模型。

　　这套系统核心是一个芯片仿真器，可仿效发出 RFID标签芯片的信号。仿真器配备有天线，当设备受到RFID阅读器刺激时，设备产生 RF信号。这种信号与含天线设计的 RFID标签发出的信号一样，可以被测量和分析，包括信号对周遭环境的反应。工程师采用不同天线来重复测试过程，以达到所期望的zui终产品。

　　据研究人员 Durgin称，新天线模型化方式与目前的 RFID标签设计过程*不同。普常方式利用计算机模拟，即工程师采用特殊的软件来设计和测试标签模型。“硬件仿真比软件仿真测试的范围更广。通过全方面的测试方式，我们可获得芯片设计软件包所不能实现利益。”

　　而且，如果标签设计师希望物理测试新芯片，他们往往必须花上几万美元来购买半导体制造商生产的模型。“采用我们的testbed，你不必每次都花$30,000 或 $100,000来测试新型信号协议。"

　　Testbed的开发由国家科学基金会赞助。设备目前的工作频率为915 MHz，研究人员希望实现更高频段的应用，如5.7 GHz。实际上，这个项目长期的目标是研究和利用那些高频段的 RF信号。